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解決方案
激光行業(yè)
典型應用 場鏡-微納加工設備光斑監(jiān)測
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針對小光斑，相機直接檢測無法觀察到細節(jié)，無法進行評價，光斑放大分析裝置將光斑進行無損放大從而評價光斑,如下圖所示：
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光研科技推出的微焦點檢測光斑分析產品，其最小可測直徑1um聚焦光斑,產品硬件由傳感器、對焦平臺、物鏡、衰減系統組成，靈活的模塊化組合，滿足客戶設備集成需求。
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產品型號 |
N0307-X10 |
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傳感器類型 |
CMOS、InGaAs、氧化釩、Phosphor、Quantum Dot |
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供電及接口 |
USB 3.0或GigE |
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檢測波段 （任選一種） |
D：190~300nm/U：343~355nm/ G:515~532nm/V:400-800nm N：900~1100nm /S：1100~1700nm L:8~14μm |
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聚焦光斑測量 |
0.5um-700um |
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數值孔徑 |
0.85 |
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最大測量功率 |
10W（UV）~50W@(IR) |
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放大倍率 |
2/5/10/20/50/100倍可選 |
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外形尺寸 |
長*寬*高 ：200*65*130mm |
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場鏡-微納加工設備光斑監(jiān)測 |
Wavelab Beamfiler 光斑分析儀
